Info Info Seminário em Microscopia Eletrônica e de Varredura por Sonda em [ Outros espacos] Padrão Número identificador desta solicitação. 4922876939864100087 Registro SIEX - Tipo Registro SIEX - Número Categoria PARA O AGENDADOR: Informe se o evento é da UFMG (interno) ou não (externo) Atendimento PARA O AGENDADOR: Informe o tipo de atendimento que sera prestado. Tipo Seminario Local Escolha os espaços a serem agendados Outros espacos Outro Espaço Caso outro espaço, informe qual: CAD 3 - Aud B106 Equipe PARA O AGENDADOR: Informe a equipe para este evento Haverá diária? PARA O AGENDADOR: Informe se o evento é pago Previsão de Público Informe a previsão do número de participantes 150 Início do evento Data e hora de início do evento. 26/04/2019 08:00 Término do evento Data e hora do término do evento. 26/04/2019 12:00 Evento acontece durante o dia todo Dados do solicitante Responsável pelo evento Indique o nome completo do responsável pelo evento. Wagner Nunes Rodrigues Instituição Informe qual a instituição ligada ao evento UFMG Unidade Informe a unidade ou departamento que está fazendo a solicitação Centro de Microscopia Detalhes do evento Descrição do evento Informe os equipamentos, os serviços necessários e a programação do evento O objetivo do seminário é apresentar para a comunidade da universidade as técnicas em microscopia e microanálise disponíveis no Centro de Microscopia da UFMG. Os conteúdos serão apresentados pela equipe do Centro de Microscopia, com a seguinte sequência: Microscopia Eletrônica de Transmissão: - Imagem de campo claro e imagem de campo escuro - Imagem de alta resolução (HRTEM) - Difração de elétrons (SAD, MicroED, CBED) - Espectroscopia de raio-X por dispersão em energia (EDS) - Espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS) - Imagem filtrada em energia (EFTEM) - Crio-microscopia Microscopia Eletrônica de Varredura e de Feixe Focalizado de Íons: - Imagem de elétrons secundários e de elétrons retroespalhados - Espectroscopia de raio-X por dispersão em energia (EDS) - Microscopia de feixe focalizado de íons (FIB) - Difração de elétrons retroespalhados (EBSD) Microanálise química: - Espectroscopia de raio-X por dispersão em energia (EDS) - Espectroscopia de raio-X por dispersão em comprimento de onda (WDS) - Análise de liberação mineral (MLA) Microscopia de Varredura por Sonda: - Microscopia de força atômica (AFM) - Microscopia de força magnética (MFM) - Microscopia de força elétrica (EFM) - Espectroscopia de força - Mapa de propriedade mecânica (AMFM) - Nanoindentação - Microscopia de impedância de microondas Será necessário projetor, sistema de som (microfone) e acesso à internet.
